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產(chǎn)品展示
產(chǎn)品分類
PRODUCT激光粒度儀
噴霧粒度儀
x射線衍射儀
x射線熒光光譜儀
納米粒度電位儀
在線粒度分析儀
納米顆粒跟蹤分析儀
熔樣機(jī)
微量熱儀
顆粒圖像分析儀
多檢測器凝膠色譜系統(tǒng)
其它工業(yè)過程控制
分子相互作用儀
推薦展示
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機(jī)Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內(nèi)置計算機(jī)、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術(shù)的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng),在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點的基礎(chǔ)上,增加了多角度動態(tài)...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規(guī)實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
納米粒度儀即使作為入門級納米粒度及Zeta電位分析儀,Zetasizer Lab 的功能也不容小覷。 馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Lab 采用經(jīng)典動態(tài)光散射(90°),包含...
公司簡介
使用我們的技術(shù)可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu),元素及物相等參數(shù)。這些信息對于預(yù)測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實現(xiàn)高效制造至關(guān)重要。作為思百吉集團(tuán)成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線,GPC等設(shè)備的專業(yè)實驗室,完善的實驗室設(shè)備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓(xùn)的配套服務(wù)與優(yōu)...
News
激光噴霧粒度儀是一種高精度儀器,專門用于測量微米級顆粒的粒度分布。基于激光散射原理工作。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時,顆粒會對激光產(chǎn)生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強度,可以得到顆粒的粒度分布信息。激光噴霧粒度儀通常由激光器、探測器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出激光,經(jīng)過聚焦后照射到正在噴霧的顆粒上。產(chǎn)生的散射光被探測器接收,并轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則對電信號進(jìn)行處理和分析,最終得出顆粒的粒度分布、平均粒徑...
激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品,工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時,會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布,通過檢測這些散射光的分布,可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說,激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號,來確定顆粒的大小分布。激光粒度分布儀通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集,并聚焦到探測器上。探測...
正極材料的化學(xué)組成對電池的性能起著關(guān)鍵作用,在正極材料元素成分分析中,XRF技術(shù)與ICP和其他分析技術(shù)相比,具有更簡單、更快速,且具備高精度和準(zhǔn)確度高等特點。本文將介紹馬爾文帕納科ZetiumXRF分析Li-NCM正極材料的實驗過程及結(jié)果驗證。在各種類型的鋰離子電池中,鋰鎳錳鈷氧化物(Li-NCM)電池由于其高能量密度、優(yōu)異的穩(wěn)定性和成規(guī)模的應(yīng)用而成為突出的選擇。Li-NCM正極材料的化學(xué)組成在決定其性能方面起著關(guān)鍵作用,因此對這些材料進(jìn)行準(zhǔn)確的元素分析對于電池開發(fā)和生產(chǎn)至關(guān)...
x射線熒光光譜儀是一種用于元素分析和化學(xué)分析的高級儀器,利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時,會激發(fā)出次級X射線,即X射線熒光。這種現(xiàn)象可用于元素分析,因為不同的元素會放射出各自的特征X光,這些X光具有不同的能量或波長特性。通過檢測這些特征X光,可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。以下是使用X射線熒光光譜儀時的一些注意事項:1、環(huán)境要求:溫度和濕度:保持實驗室的溫度在20℃±5℃,相對濕度低于70%。避免在潮濕、高溫或溫度劇烈變化的環(huán)境中使用,以免影響儀器的穩(wěn)...
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